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大颗粒型光电自动数粒仪

简要描述:

SZ-PME大颗粒型光电自动数粒仪可对各种主要粮食作物,如稻、麦、高粱玉米等颗粒进行自动计数,在农科院(所)农业大专院校、种子系统,粮食部门中、考察种子指标,测量千粒重有广泛应用。

SZ-PME大颗粒型光电自动数粒仪可对各种主要粮食作物,如稻、麦、高粱玉米等颗粒进行自动计数,在农科院(所)农业大专院校、种子系统,粮食部门中、考察种子指标,测量千粒重有广泛应用。
SZ-PME-1型
(1) 尺寸:长×宽小于12×4毫米(小颗粒);
(2) 尺寸:长×宽小于12×10毫米(大颗粒)
尺寸:长×宽小于12×4毫米(小颗粒)
2、 计数精度:±4/1000以速度而定。(标准偏差)
3、 计数速度:小颗粒大于1000粒/3分钟;大颗粒500粒/3分钟
4、 计数容量:1~9999由四位LED数码管直接读数。
5、 自校频率:f=1~2HZ f=10~20HZ.
6、 预置自停:1~9999当中任意数值,置0000不计数。
7、 外接电源220~±20V~50HZ功率小于20瓦,接地良好。
8、 仪器尺寸:304×234×180毫米。
9、 工作环境:
大气压力:750±30毫米汞柱。
环境温度0℃~40℃
相对湿度:20℃时小于80%
连续使用时间:大于四小时。
10、仪器功能:电路自校,任意计数,预置自停,抽门与送料自锁。
SZ-PME大颗粒型光电自动数粒仪主要技术性能

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品简介
1、符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体,也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3、电阻率测量范围复盖最常用的区段:0.01—199.9Ω·cm。(可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能)
     方块电阻测量范围复盖最常用的区段:0.1—1999Ω/□。(可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能)
4、配置高精度恒流源,测量电流稳定,分两档:1mA、10mA,每档均可在大范围内调节(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA)。
5、测量精度高:电器测量精度优于0.3%;
     整机测量误差:测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
     测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
6、重量轻,约2.5kg;体积小:240×210×100(mm)。
7、可配用多种探针间距的四探针头:1.00mm、1.59mm。


 

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