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两探针电阻率测试仪

简要描述:

SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法"设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的,而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒,例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。

两探针电阻率测试仪(测锗锭专用)

SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪是按照我国国家标准及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量模截面尺寸是可测量的,而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒,例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出,远离电压测量探针,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,因此两探针法的测量精度一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量,由于多晶晶粒间界处,杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化,这种影响对四探针法更为严重,故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。
本仪器除适合测量体形有规则的单晶棒外,也适合测量多晶棒。两探针法测量水平区熔多晶锗电阻率,在我国已有四十多年的实践经验,对区熔锗锭横截面面积的变化已总结出一套计算方法,本仪器采用李贺成教授提出的计算公式编写程序,可用微机HQ-710C处理区熔锗锭的测量数据,或采用KDY测量系统专用软件测量数据,并根据北京有色金属研究总院余怀之教授的提议,扩大了微处理机的数据处理范围。
      本仪器主要由电气测量部份(简称:主机)、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关,在测量某些材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,更好地保护被测材料。仪器配置了本公司的专li产品:“小游移探针头”,间距为10mm的两探针头探针游移率在0.02~0.05%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机需配用HQ-710C数据处理器或KDY测量系统专用软件,置入必须的数据后,处理器会配合探头在锗锭上移动测量,自动计算、打印出各点的电阻率、电阻率的最大值、电阻率最小值,给测量带来很大方便。
SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪主机技术参数
(1)测量范围:
 可测电阻率:锗晶体0.1-100Ω·cm
 可测锗锭尺寸:最大长度700mm;最大高度50mm;最大宽度60mm。
(2)恒流源:
 输出电流:DC 0.004-100mA  五档连续可调
 量程:0.004-0.01mA   
          0.04-0.10mA
          0.4-1.0mA 
          4.0-10mA
          40-100mA
恒流精度:各档均优于±0.05%
(3)直流数字电压表:
 测量范围:0-199.99mV
 灵敏度:10μA
 基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度)
 输入阻抗:≥1000MΩ
(4)电阻测量误差:≤0.3%
(5)两探针头:KDT-5
 探针间距:10.00±0.02mm  
 游移率:0.02-0.05%          
 探针压力:4±1N/单针
(6)供电电源:
 AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率:12W
(7)使用环境:
 温度:23±2℃   相对温度:≤65%
 无较强的电场干扰,无强光直接照射。
(8)重量、体积:
 主机重量:7.5Kg
 体积:390×340×190(单位:mm  长度×宽度×高度)

 

                                                                                                                          

两探针电阻率测试仪(测细硅芯专用)

SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪(以下简称两探针仪)是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。配套测试架适合于测量硅芯电阻率。两探针法的测量精度一般优于四探针法。

整套仪器有如下特点

1、配有双数字表:一块数字表在测量显示电压的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更方便,测量更精确。

数字电压表量程:0—199.99mV  灵敏度:10μV  输入阻抗:1000ΜΩ  基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)

2、可测电阻率范围:0.001—10000Ω·cm。

3、测量电流由高度稳定(万分之几精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响。电流量程分五档:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA

4、仪器采用触点电阻更低(<5mΩ)、使用寿命更长的转换开头及继电器(>10万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

5、可加配电脑,安装KDY测量系统,实现数据采集、自动换向测量、求平均值,计算、存储并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。

 

                                                                    

两探针电阻率测试仪(测检磷检硼棒专用)

SZ-KDY-2型两探针电阻率测试仪(以下简称两探针仪)是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型,方型或矩形单晶锭(如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等)的电阻率,测样长度与截面最大尺寸之比应不小于3:1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出,远离电压测量探针,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,测量结果为横截面的平均电阻率,两探针法的测量精度一般优于四探针法。

整套仪器有如下特点:

1、配有双数字表:一块数字表在测量显示电压的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更方便,测量更精确。

数字电压表量程:0—199.99mV  灵敏度:10μV  输入阻抗:1000ΜΩ 基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)

2、可测电阻率范围:0.001—10000Ω·cm。

3、测量电流由高度稳定(万分之几精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响。电流量程分五档:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。调节范围从0.001~100mA

4、仪器采用触点电阻更低(<5mΩ)、使用寿命更长的转换开头及继电器(>10万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

5、可加配电脑,安装KDY测量系统,实现数据采集、自动换向测量、求平均值,计算、存储并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。

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