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方块电阻测试仪 方阻仪

简要描述:

ST-21方块电阻测试仪 方阻仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

方块电阻测试仪 方阻仪  型号:ST-21

 

ST-21方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

 

ST-21方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

 

特点:

采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;

以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

采用单个电池供电,带电池欠压指示;

体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

探头带抗静电模块

 

技术指标:

测量范围

 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;

恒流源

 测量过程误差:≤±0.8%

模数转换器

 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度

 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

四探针探头规格

 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

电源

 9V叠层电池1节

  

                                                                   

 方块电阻测试仪 方阻仪  型号:ST-21H

 

ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

 

该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

 

特点:

采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;

以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

采用单个电池供电,带电池欠压指示;

特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜;

探头带抗静电模块;

体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

 

技术指标:

测量范围

 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.0~1999.9Ω/□;
  2.方块电阻 10~19999Ω/□;
 最小分辨率:0.1Ω/□;

恒流源

 测量过程误差:≤±0.8%

模数转换器

 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度

 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

四探针探头规格

 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

电源

 9V叠层电池1节

 

 

可选配HP系列四探针探头的型号及规格:

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直线

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直线

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直线

 

 

可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格:

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

 

                                                                   

 方块电阻测试仪  型号:ST-21L

 

ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

 

该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

特点:

1

 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;

2

 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

3

 采用单个电池供电,带电池欠压指示;

4

 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

5

 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

6

 探头带抗静电模块

技术指标:

测量范围

 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.000~19.999Ω/□;
  2.方块电阻 10.00~199.99Ω/□;
 最小分辨率:0.001Ω/□

恒流源

 测量过程误差:≤±0.8%

模数转换器

 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度

 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

四探针探头规格

 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

电源

 使用一节450mAH的锂电池

 

ST-21L方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格:

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直线

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直线

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直线

 

ST-21L方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格:

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

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